GB_T 7991-2003
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ID： |
14AF0A82EC8843BC00BF82B126ABB5BA |
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文件大小(MB)： |
0.17 |
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页数： |
5 |
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文件格式： |
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日期： |
2006-11-27 |
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GB/T 7991-2003,前言,本 标 准 修改采用ISO 2178:1982((磁性金属基体上的非磁性徐层厚度的侧定磁性侧量法》(英,文版),本 标 准 根据ISO 2178:1982重新起草,本 标 准 在采用ISO 2178:1982时，依据搪玻璃设备的特点和磁性测厚仪目前的技术水平进行了修,改。有关技术性差异已编人正文中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。在附录A,中给出了技术性差异及其原因一览表，以供参考,为 便 于 使用，对于ISO 2178:1982本标准还做了下列编辑性修改:,a) “本 国际标准”一词改为“本标准;’,b) 删 除ISO 2178:1982的前言;,c) 将 一 些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述,本 标 准 代替GB/T 7991-1987((搪玻璃层的厚度测量电磁法》,本 标 准 与GB/T 7991-1987相比主要有以下不同:,— 删 除了GB/T 7991-1987的第1章“定义，，;,— 依 据ISO 2178:1982，增加T本标准第3章中的3.6 ,3.7 ,3.8,3.1 0,3.1 2，第4章中的4.2 ,4. 3. 1, 4 . 3 . 4 ， 第 5章中的5.3,5.5,5.6,5.7,5.8,5.9,5.10.,本 标 准 的附录A为资料性附录,本 标 准 由中国石油和化学工业协会提出,本 标 准 由全国搪玻璃设备标准化技术委员会归口,本 标 准 起草单位:天华化工机械及自动化研究设计院、淄博工业搪瓷厂、山东济宁超声电子仪器厂、,沈阳市东华检测仪器厂,本 标 准 主要起草人:桑临春、沙庆谦、张品、杨长明、梁彩霞,本 标 准 所代替标准的历次版本发布情况为:,- G B/T 7991- 1987,GB/T 7991-2003,搪玻璃层厚度测量电磁法,范围,本标准适用于用电磁法测量磁性基体上的搪玻璃层厚度的方法,2 原理,用电磁法测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化而得到覆盖层的厚度,3 影响测量精度的因素,3.1 搪玻璃层厚度,搪 玻 璃 层厚度的变化会影响测量精度，与所选用的仪器有关。对薄的搪玻璃层这个精度是一个常,数值，与厚度无关;对于厚的搪玻璃层，其精度随搪玻璃层厚度的增加有所降低,3.2 基体金属的磁性,磁 性 测 厚仪受基体金属磁性变化的影响(低碳钢的磁性变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理,和冷加工因素的影响，应用与被测件基体金属具有相同性质的标准样来校准仪器。最好用未搪玻璃前,的试件来校准,3.3 基体金属厚度,每 种 仪 器都对被测件的基体金属有一个临界厚度的要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属,厚度增加的影响。如果仪器制造厂未提供本台仪器的临界厚度值，应通过试验确定,3.4 边缘效应,被 测 件 表面形状的突变会影响磁性测厚仪的准确性。因此，太靠近被测件边缘或拐角处的测试数,据是不可靠的，除非该仪器针对上述条件做了校准。这种影响可能延伸到距边角15 mm处,3.5 曲率,被 测 件 的曲率半径越小，影响越显著。这与仪器的类型有相当大的关系,用 双 极 测头测厚仪测量时，测头与圆桂体的轴向平行或垂直放置，读数会不同。单极测头如果测头,发生了不规则磨损，也会产生类似的现象,因此 ，在 弯曲试样上测量前仪器要针对这种情况进行专门校准，否则，测量数据不可靠,3.6 表面粗糙度,如 果 在 被测件粗糙表面上同一参考面积内所测得的一系列数值明显地超过仪器固有的重现性，则,在某一点测量的次数至少应增加到5次,3.7 基体金属机加工方向,用 双 极 测头或被磨损不平整的单极测头的仪器测量时，仪器读数会受到磁性基体金属机械加工(如,轧制)方向的影响，测量值会随测头在被测件表面上放置的方向而变化,3.8 剩磁,基体 金 属 中的剩磁对恒定磁场测厚仪测量的准确性有影响。如果使用交变磁场磁阻型测厚仪进行,测量，这种影响会减小很多,3.9 磁场,周 围各 种 电器设备所产生的强磁场，严重干扰电磁式测厚仪的测量精度,3.10 附着物质,附着 物 质 会影响磁性测厚仪测头与搪玻璃层表面紧密接触，所以搪玻璃面和测头必须保持干净,1,GB/T 7991-2003,3.11 测头压力,施加 于 测头压力大小，对仪器读数有影响,3.12 测头取向,对 磁 引 力原理测厚仪，测头方向与地球重力场方向相同或相反，测量读数不同。因此，仪器测头在,与地球重力场方向相同或相反的情况下测量时，应作相应校准,4 仪器校准,4.1 概述,测 量 前 ，每台仪器应按制造厂的说明书用标准片进行校准,使 用 中 ，每隔一段时间应对仪器进行校准,4.2 标准样,用 已 知 厚度的箔片或已知覆盖层厚度的试样作为校准标准片,4.2. 1 校准箔,“箔 ” 是 指非磁性金属或非金属的片,用 箔 来 校准磁性测厚仪时，要保证箔与基体金属紧密接触,“箔 ” 有 利于曲面的校准，比用有覆盖层的标准片更合适,为 了 防 止测量误差，保证“箔”与基体金属之间的紧密接触，应尽可能避免使用有弹性的箔片,箔 片 易 产生压痕，应时常更换,4.2.2 有砚盖层的标准片,在 基 体 金属上覆盖一层均匀的、已知厚度的，并与其牢固结合的援盖层作为标准片,4.3 校准,4.3.1 用来校准的标准片的基体金属表面粗糙度和磁性要与被测件的相似。为了确保测量的准确性,最好将在标准样基体金属上测得的数值与被测件的未搪玻璃的基体金属上测得的数值加以比较,4.3.2 为了有效地排除基体金属机械加工方向和剩磁对测量准确性的影响，校准双极测头的仪器时必,须将测头旋转几个……
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